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단결정 사파이어 입구의 스트레스 테스트 방법

Test Method for Stress of Monocrystalline Sapphire Ingot


사파이어는 과학 기술, 국방 및 민간 산업과 같은 많은 분야에서 널리 사용되는 중요한 광학 소재입니다. 사파이어 결정의 독특한 기계 가공 특성으로 인해 IC 웨이퍼 가공의 정밀 연삭 및 연마 기술은 초정밀 나노 크기의 기판 웨이퍼를 얻을 수 있습니다. 과학 기술, 국방 및 민간 산업, 전자 기술 및 기타 여러 분야에서 널리 사용되었습니다. 사파이어 기판 웨이퍼의 가장 큰 응용 분야 인 LED 칩은 사파이어 산업의 발전에 중요한 영향을 미치는 LED 조명 산업에서 널리 사용되었습니다.


Test Method for Stress of Monocrystalline Sapphire Ingot


Suzhou PTC Optical Instrument Co., Ltd. 에서 개발 및 제조 한 스트레스 뷰어를 사용하여 사파이어 잉곳을 감지하면 원시경을 볼 수 있습니다. 원시경 패턴은 검은 십자가와 동심 간섭 색 원으로 구성됩니다. 간섭 색 원은 검은 십자가의 교차점 (광축의 이슬점) 을 중심으로 동심 고리를 형성합니다. 간섭 컬러 원의 수는 결정의 복굴절의 크기 및 두께에 의존한다. 결정의 국부 정사이즈 구조가 파괴될 때, 발생된 응력은 이 위치에서 광축의 방향을 변화시킨다. 그리고 빔이이 위치를 통과 할 때, 얻어진 원시경 패턴의 검은 십자가가 변형됩니다. 따라서, 결정의 각 위치에서 원시경을 관찰함으로써 결정의 응력을 검출할 수 있다.

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